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“ROHS检测仪（EDX-600）”参数说明
| 型号： | EDX-600 | 商标： | 极塑实业 |
| 产量： | 10 |
“ROHS检测仪（EDX-600）”详细介绍
产品特点：
高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源：采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管：采用W／Rh靶X射线管，静音高速风扇制冷，设计寿命5万小时。
高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
全方位的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。
超安全样品腔：采用独特的“山”字形设计样品腔与仪器接合，精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全最佳平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。
采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。独特光学准直器，光束最小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
先进的光谱分析方法：紧跟国际最前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法，最大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于领先地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1％以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10％以内。
＊＊镀层厚度分析：选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。
技术指标基本参数
探测器 145eV FWHM＠5.9keV 外型尺寸 650 X 520 X 475 mm
稳定度小于 0.05％样品腔 18 X 490 X 320 mm
测量对象固体、液体、粉末输入电压 AC 220V／50HZ
测量时间 60-300s 功耗 260W
元素范围硫（S）-铀（U）重量 48Kg
检测下限 2ppm 工作温度 20-30℃
含量范围 2ppm-99.99％工作湿度 40-70％
X光管压 1-50KV
X光管流 1-1000 A
高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源：采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管：采用W／Rh靶X射线管，静音高速风扇制冷，设计寿命5万小时。
高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
全方位的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。
超安全样品腔：采用独特的“山”字形设计样品腔与仪器接合，精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全最佳平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。
采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。独特光学准直器，光束最小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
先进的光谱分析方法：紧跟国际最前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法，最大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于领先地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1％以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10％以内。
＊＊镀层厚度分析：选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。
技术指标基本参数
探测器 145eV FWHM＠5.9keV 外型尺寸 650 X 520 X 475 mm
稳定度小于 0.05％样品腔 18 X 490 X 320 mm
测量对象固体、液体、粉末输入电压 AC 220V／50HZ
测量时间 60-300s 功耗 260W
元素范围硫（S）-铀（U）重量 48Kg
检测下限 2ppm 工作温度 20-30℃
含量范围 2ppm-99.99％工作湿度 40-70％
X光管压 1-50KV
X光管流 1-1000 A